Викладає: ст. вик. Гільчук Андрій Володимирович (лекції),
Романенко Юрій Миколайович (лабораторні роботи)
Даний курс розрахований на студентів п’ятого курсу спеціальності «Прикладна фізика». Розглянуто класифікацію методів аналізу за типом дії на зразок і типом частинок або випромінювання, що аналізується. Наведено класифікацію методів досліджень за типом досліджуваної характеристики: дослідження мікроструктури, структури, фазового та елементного складу. Розглянуто теоретичні основи, принципи та технічні реалізації наступних методів: скануюча електронна мікроскопія, трансмісійна електронна мікроскопія, тунельна мікроскопія, атомно-силова мікроскопія, дифракція зворотно розсіяних електронів, рентгенівський мікроаналіз, Оже-електронна спектроскопія, фотоелектронна спектроскопія, вторинно-йонна масс-спектрометрія, методи вимірювання мікро- та нанотвердості.
Графік консультацій
Канали комунікацій
Організація дистанційного навчання
Посилання для пошуку наукової інформації
1. https://www.sciencedirect.com/
2. https://www.springer.com/gp
